實時焦點：PCIe失效分析利器，一學就會成為故障定位專家

在服務器、PC等電子設備主板的生產(chǎn)中，往往會出現(xiàn)產(chǎn)線的故障，需要失效分析工程師（FA）以及維修工程師（RMA）去快速定位生產(chǎn)過程當中的故障件，特別是一些高速信號的故障。在整個過程中，往往需要面臨很多的壓力和責任，比如：

【資料圖】

客戶投訴需要及時反饋

不良風險點的識別和內部分析

不斷完善設計檢查表，推動 RD 優(yōu)化設計

指導生產(chǎn)制程改善

團隊的能力需要持續(xù)提升

高速信號的特殊性

但是要應對這些壓力，往往也對工程師提出了很高的要求。目前來看FA/RMA工程師由于工作性質問題，要去應對上面的挑戰(zhàn)往往也很棘手，特別是高速信號相關的故障，而且由于高速信號的特殊性，這類信號也容易出問題，其中PCIe信號是其中的典型。

主要原因：

高速信號帶寬高、速率快、信號冗余度也因此變小；

PCIe 信號是高速信號互聯(lián)的關鍵；

PCIe 互聯(lián)的接口總類多；

缺少測試手段，往往只有低端示波器以及萬用表，無法用于高速信號問題排查；

缺乏系統(tǒng)的信號完整性知識，往往依賴于產(chǎn)品研發(fā)；

因此FA/RMA工程師需要在嚴苛的客戶投訴、產(chǎn)線運轉時間中，能夠有足夠的手段以及盡可能低的學習成本，快速驗證諸如PCIe高速總線的故障，從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋，甚至能夠推動RD優(yōu)化設計，確保團隊能夠得到持續(xù)的正向發(fā)展和評價。

圖1. 泰克新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀

新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀

針對上面提到的FA/RMA工程師所遇到的挑戰(zhàn)，泰克推出了新一代的TMT4 PCIe性能綜合測試儀。

圖 2. 豐富的硬件接口形式，應對各種產(chǎn)品形態(tài)

這臺儀器集成了豐富、便捷的功能，直達PCIe 信號鏈路、物理層細節(jié)信息，直觀的圖示有利于工程師學習和掌握：

支持PCIe Gen3/4信號的一鍵式掃描功能，同時掃描所有鏈路的發(fā)射和接收性能。

支持多種多樣的硬件接口，如CEM、M.2、U.2、U.3等等，適配各種信號連接。

速度飛快，掃描所有16條PCIe Gen4總線鏈路只需要1-2分鐘。

一學就會，無需學習成本，通過網(wǎng)頁訪問，只需要一兩個按鍵操作就能完成測試。

?提供專業(yè)報告，方便與RD一起進行問題分析與定位。

圖3. 專業(yè)級的PCIe物理層Tx/Rx分析

通過TMT4 PCIe性能綜合測試儀，整個FA/RMA工程師團隊可以在短短1-2分鐘內提交全面的PCIe鏈路的發(fā)射機和接收機的測試結果，從而能夠給出專家級的分析報告；因此也能夠幫助工程師更快的對客戶投訴做出反饋，以及幫助工程師快速確定問題所在，確保產(chǎn)線正常運轉，最大程度提升工程師價值以及降低產(chǎn)線成本。

了解更多TMT4 PCIe性能綜合測試儀，https://www.tek.com.cn/products/pciemargintester。目前這款新品所在的PCIe測試實驗室已開放預約，歡迎大家來實測體驗。

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