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全球通訊!如何組合使用低通濾波器和ADC驅動器獲取20 V p-p信號

作者: Philip Karantzalis,高級應用工程師和Frances De La Rama,產(chǎn)品應用工程師

問題:

為何要組合使用低通濾波器(LPF)和模數(shù)轉換器(ADC)驅動器?

答案:

為了減小模擬信號鏈的尺寸,降低其成本,并提供ADC抗混疊保護(ADC采樣頻率周圍頻段中的ADC輸入信號不受數(shù)字濾波器保護,必須由模擬低通濾波器(LPF)進行衰減)。20 V p-p LPF驅動器一般用于工業(yè)、科技和醫(yī)療(ISM)設備中,該設備必須使用具有更低滿量程輸入的高速ADC對傳統(tǒng)的20 V p-p信號范圍進行數(shù)字化處理。


(資料圖)

簡介

通過驅動ADC實現(xiàn)優(yōu)化的混合信號性能,這是一大設計挑戰(zhàn)。圖1所示為標準的驅動器ADC電路。在ADC采集期間,采樣電容將反沖RC濾波器中指數(shù)衰減的電壓和電流?;旌闲盘朅DC驅動器電路的最佳性能受到多個變量影響。驅動器的建立時間、RC濾波器的時間常數(shù)、驅動阻抗,以及ADC采樣電容的反沖電流在采樣時間內(nèi)相互作用,導致產(chǎn)生采樣誤差。采樣誤差隨著ADC位數(shù)、輸入頻率和采樣頻率的增大而增大。

標準ADC驅動器具有大量實驗數(shù)據(jù)樣本,可用于可靠的設計流程。但缺乏實驗數(shù)據(jù)來引導進行驅動ADC的低通濾波器設計。本文介紹集成模擬低通濾波、信號壓縮和ADC驅動器的LPF驅動器電路(參見圖2)。

表1列出了圖2所示電路的性能變量。下方的實驗室數(shù)據(jù)和分析旨在引導說明,給出圖2所示的電路的時間和頻率響應限值。

1.2所示電路的性能變量

LPF驅動器

RC濾波器

ADC

–3 dB帶寬、阻帶衰減、建立時間、噪聲、THD

電阻值、RC時間常數(shù)

采樣頻率、位數(shù)、采樣時間、SNR、THD

實驗室數(shù)據(jù)和分析

信噪比(SNR)和總諧波失真(THD)是衡量系統(tǒng)動態(tài)性能的兩個重要參數(shù)。能否實現(xiàn)最佳性能,取決于ADC和信號調(diào)理級的組合,在本文中,后者包括三階低通濾波器和單端至差分轉換器。圖2所示的LPF驅動器電路的–3 dB帶寬和建立時間會有所不同,有關SNR和THD的測量值,請參見表2至表5。本文將會探討受測變量和這些變量對系統(tǒng)性能的影響。

低通濾波器–3 dB帶寬

比較信號帶寬為1 MHz與2 MHz和0.5 MHz時系統(tǒng)的性能。當–3 dB點分別為558 kHz、1 MHz、和2.3 MHz,其性能如表2所示。將截止頻率降低至558 kHz,LPF噪聲帶寬隨之降低,但SNR提高。將截止頻率增大至1 MHz或2.3 MHz,LPF驅動器建立時間縮短,THD降低。

圖1.標準ADC驅動器和RC濾波器。

圖2.LPF驅動器和ADC電路。

2.R = 750 Ω時三種截止頻率對應的LPF驅動器性能

VIN(V p-p)

FIN(kHz)

-3 dB頻率

RQ

LPF驅動器C

LPF驅動器R

SNR

THD

558 kHz

2700 pF

90 dB

-98 dB

20

2

1 MHz

150 ?

1500 pF

750 ?

90 dB

-103 dB

2.21 MHz

680 pF

88 dB

-106 dB

更改圖2所示的R或C可以更改截止頻率。使用C電容來設置截止頻率時,LPF驅動器THD更低;R電阻值降低,有助于略微改善SNR;如表3所示。

3.R = 412 Ω時三種截止頻率對應的LPF驅動器性能

VIN(V p-p)

FIN(kHz)

-3 dB頻率

RQ

LPF驅動器C

LPF驅動器R

SNR

THD

580 kHz

4700 pF

91 dB

-98 dB

20

2

1 MHz

150 ?

2700 pF

412 ?

90 dB

-97 dB

2.25 MHz

1200 pF

89 dB

-99 dB

設置RQ電阻(圖2)

LPF的RQ電阻可設置時間響應。RQ越高,過沖越大,建立時間越長。RQ越低,過沖越小,建立時間越短。圖3顯示使用150 ?和75 ? RQ電阻時對應的LPF瞬態(tài)響應。我們測試了使用不同的RQ時LPF驅動器的性能,測試結果如表4所示。

圖3.不同的RQ值對應的過沖和建立時間。

4.不同的RQ值對應的LPF驅動器性能

VIN(V p-p)

采樣速率(MSPS)

-3 dB頻率

RQ

LPF驅動器C

LPF驅動器R

SNR

THD

20

10

558 kHz

150 ?

2700 pF

750 ?

90 dB

-98 dB

75 ?

90 dB

-97 dB

1 MHz

150 ?

1500 pF

89 dB

-102 dB

75 ?

89 dB

-100 dB

2.3 MHz

150 ?

680 pF

88 dB

-106 dB

75 ?

88 dB

-106 dB

根據(jù)實際測量得出的數(shù)據(jù),使用75 ?和150 ? RQ對SNR和THD性能沒有明顯影響,只是影響過沖和建立時間的一個因素。

ADC采樣速率

表5中的數(shù)據(jù)顯示,如果使用LTC2387-18,在10 MSPS時系統(tǒng)的THD性能低于15 MSPS時(在10 MSPS時,圖2中的RC驅動器電容C3和C4的值為180 pF)。

注:在10 MSPS時,LTC2387-18和LTC2386-18的采樣時間分別為61 ns和50 ns。

5.采樣速率為10 MSPS15 MSPS時的LPF驅動器性能

VIN(V p-p)

采樣速率(MSPS)

-3 dB頻率

RQ

LPF驅動器C

LPF驅動器R

SNR

THD

20

15

1 MHz

150 ?

1500 pF

750 ?

88 dB

-96 dB

10

89 dB

-101 dB

15

2.3 MHz

75 ?

680 pF

88 dB

-93 dB

10

88 dB

-106 dB

RC濾波器

驅動器和ADC之間的RC濾波器用于限制帶寬,確保實現(xiàn)寬帶寬低噪聲,且實現(xiàn)更優(yōu)的信噪比。RC數(shù)值決定–3 dB截止頻率。降低R有時可能導致響鈴振蕩和不穩(wěn)定。增大R會增大采樣誤差。使用更低的C值,會導致更高的電荷反沖,但充電時間更快。使用更高的C值,可以降低電荷反沖,但充電時間會變慢。此外,設置RC值是確保在給定的采樣時間內(nèi)獲取穩(wěn)定樣本的關鍵。使用數(shù)據(jù)手冊的推薦值和精密ADC驅動器工具給出的建議值會是一個非常不錯的起點。

精密ADC驅動器工具是一款綜合工具,可以幫助預測在驅動器和ADC之間使用不同的RC值系統(tǒng)的性能??梢允褂眠@款工具檢查的參數(shù)包括電荷反沖、采樣誤差和采樣時間。

使用25 ?和180 pF RC實現(xiàn)更低的–3 dB截止頻率時,輸入信號建立時間和電荷反沖會受到影響。要實現(xiàn)更低的–3 dB截止頻率,并確保輸入信號在采集時間內(nèi)正確建立,我們可能需要使用更低的采樣速率。根據(jù)LTC2387-18數(shù)據(jù)手冊,采樣時間通常是周期時間減去39 ns。在15 MSPS使用LTC2387-18時,采樣時間為27.67 ns,在10 MSPS使用此器件時,采樣時間為61 ns。

圖4.使用不同采樣速率時的電荷反沖、RC_Tau、采樣時間:(a) 15 MSPS采樣速率,LTC2387-18使用建議的RC值(25 Ω和82 pF),(b) 15 MSPS采樣速率,LTC2386-18使用建議的RC值(25 Ω和180 pF),(c) 10 MSPS采樣速率,LTC2386-18使用建議的RC值(25 Ω和180 pF)。

借助精密ADC驅動器工具,圖4a至4c匯總列出了使用不同的RC值時對應的反沖差值和RC時間常數(shù)(Tau),以及采樣速率為10 MSPS和15 MSPS時的采樣時間。圖4a顯示LTC2387-18在15 MSPS采樣速率下,使用推薦RC值(25 ?和82 pF)時的建立響應。圖4b顯示在C為180 pF時,得出的RC時間常數(shù)更高,這導致在15 MSPS采樣速率、27.6 ns采樣時間內(nèi)輸入信號無法建立。圖4c使用與圖4b相同的RC值(25 ?和180 pF),但在使用10 MSPS采樣速率、采樣時間增加至61 ns之后,信號能夠建立。

LPF驅動器電阻選擇

可以通過更改R或C來實現(xiàn)LPF驅動器的–3 dB截止頻率。電阻噪聲是系統(tǒng)總噪聲的組成部分。根據(jù)噪聲計算公式,從理論上來說,降低電阻值可以降低電阻噪聲。為了進行驗證,我們嘗試了兩個不同的電阻值作為LPF驅動器R,分別是750 ?和412 ?。從理論來說,R更低時得出的SNR應該更佳,但從實際獲得的數(shù)據(jù)來看,如表2和表3所示,SNR并無很大改善,相反,這會對THD性能產(chǎn)生更大影響。

LPF電阻(圖1中的R)越低,放大器所需的電流越大。使用更低的電阻值時,運算放大器的輸出電流高于最大線性驅動電流。

放大器驅動器選擇

在選擇要使用的ADC驅動器時,實現(xiàn)器件最佳性能所對應的規(guī)格至關重要。我們使用兩個ADC驅動器來收集數(shù)據(jù),分別是ADA4899-1和LTC6228。這些ADC驅動器非常適合用于驅動LTC2387-18,后者用于進行實驗室測量。在選擇ADC驅動器時考慮的一些規(guī)格包括帶寬、電壓噪聲、諧波失真和電流驅動能力。根據(jù)已完成的測試,從THD和SNR這兩個方面來看,ADA4899-1和LTC6228的性能差異可以忽略。

LPF設計和應用指南

圖5顯示LPF電路。5個相同電阻(R1至R5)、1個用于調(diào)節(jié)LPF時間響應的電阻(RQ)、2個相同的接地電容(C1和C2),以及1個數(shù)值為接地電容1/10的反饋電容(C3),這些器件構成了LPF無源組件(±1%電阻和±5%電容)。

圖5.LPF電路。

簡單的LPF設計流程(注1)

R1至R5 = R,C1和C2 = C。

要盡量降低失真,電阻R1至R5的值必須在600 ?至750 ?范圍內(nèi)。

?設置R = 750 ?

?C = 1.5E9/f3dB(最接近標準的5%電容pF),f3dB為LPF –3 dB頻率(注2)

?例如:如果f3dB為1 MHz,那么C = (1.5E9)/(1E6) = 1500 pF

?C3 = C/10

?RQ = R/5或R/10(注3和4)

1.簡單的濾波器設計只需要一個計算器,無需使用非線性s域公式。

2.如果R = 619 ?,那么C = 1.8E9/f3dB,f3dB為LPF –3 dB頻率。

3.RQ = R/5,用于實現(xiàn)最大阻帶衰減,RQ = R/10,用于實現(xiàn)低過沖和快速建立時間。

采用RQ/5和RQ/10時,在10× f–3dB時,阻帶衰減分別為–70 dB和–62 dB。

4.如果RQ = R/10,–3 dB頻率比RQ = R/5時低7%,也就是說,R1至R5等于RQ/5時R的0.93。

5.LPF驅動器差分輸出至ADC輸入的PCB線路距離為1"’或更低。

6.LPF運算放大器的VCC和VEE分別為6 V和–1 V,輸出線性電壓擺幅為0 V至4.098 V。

結論

根據(jù)表2至表5的SNR和THD數(shù)據(jù),我們可以了解圖2所示電路的性能。通過增大電容來降低LPF帶寬,這會增大SNR(降低LPF噪聲帶寬)。LPF帶寬越低,失真程度越高(因為LPF建立時間比實現(xiàn)最低采樣誤差所需的時間長)。此外,如果LPF電阻值太低,THD會隨之降低,因為LPF運算放大器需要驅動反饋電阻和反相運算放大器輸入電阻(運算放大器輸出電流更高時,失真程度降低)。

LTC2387-18 ADC采用10 MSPS采樣頻率時,LPF通帶必須為1 MHz或高于1 MHz,以盡可能降低THD。將LPF設置為1 MHz,是對SNR、THD和足量ADC混疊抑制的任意妥協(xié)。

設計參考:ADI的精密ADC驅動器工具精選器件

運算放大器

產(chǎn)品型號

VOS(V)最大值

IBIAS(A)最大值

GBP (Hz)典型值

VNOISE(V/√Hz)典型值

THD 2 V p-p,RL = 1k

VS范圍最小值/最大值(V)

ADA4899-1

35 μV

-12 μA

600 MHz

1 nV/√Hz

-117 dBc(1 MHz)

±5 V

LTC6228/ LTC6229

20 μV

-16 μA

890 MHz

0.88 nV/√Hz

-120 dBc(1 MHz)

±5 V

模數(shù)轉換器

產(chǎn)品型號

分辨率(位)

最大值FS

輸入類型(單端、差分)

VIN范圍 (VMIN/VMAX)

SNR(dB)

INL(LSB)

數(shù)據(jù)輸出接口

LTC2387

18

15 MSPS

單端、差分

–VREFBUF至+VREFBUF

95.7

±0.6

串行LVDS接口

致謝

主要顧問:

混合信號部門的高級應用工程師Guy Hoover和Clarence Mayott。

精密ADC驅動器工具設計師Anne Mahaffey

關于ADI公司

Analog Devices, Inc. (NASDAQ: ADI)是全球領先的半導體公司,致力于在現(xiàn)實世界與數(shù)字世界之間架起橋梁,以實現(xiàn)智能邊緣領域的突破性創(chuàng)新。ADI提供結合模擬、數(shù)字和軟件技術的解決方案,推動數(shù)字化工廠、汽車和數(shù)字醫(yī)療等領域的持續(xù)發(fā)展,應對氣候變化挑戰(zhàn),并建立人與世界萬物的可靠互聯(lián)。ADI公司2022財年收入超過120億美元,全球員工2.4萬余人。攜手全球12.5萬家客戶,ADI助力創(chuàng)新者不斷超越一切可能。更多信息,請訪問www.analog.com/cn。

關于作者

Philip Karantzalis自1973年就一直從事模擬信號電路和系統(tǒng)的測試和設計工作。他于1986年加入ADI公司信號調(diào)理部門,為數(shù)據(jù)采集、RF調(diào)制器、解調(diào)器和混頻器、ADC和高精度測試系統(tǒng)提供基帶信號設計。Philip目前擔任ADI公司精密系統(tǒng)部的高級應用工程師。作為紐約市RCA電子學院的一名畢業(yè)生,曾在舊金山州立大學學習高等數(shù)學。

Frances de la Rama于2007年加入ADI公司公司,擔任技術員。2014年至2019年通過ADI的繼續(xù)教育計劃(CEP)攻讀電子工程學位,他畢業(yè)于菲律賓科技大學達義分校。2019年成為菲律賓開發(fā)中心(PDC,前身為設計、布局和應用)的一員,隸屬于ADI產(chǎn)品應用團隊。在早期的工作中,他主要負責線性產(chǎn)品和解決方案,側重于放大器領域;現(xiàn)在,他主要從事以ADBT100x為核心產(chǎn)品的電池化成和測試(BFT)工作。

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